micro|nanowelten

Modell eines AFM

Erst seit wenigen Jahren exisistiert das Rasterkraftmikroskop (AFM). Es ist eine Fortentwicklung des Rastertunnelmikroskopes.

Eine spitze Nadel führt über die zu untersuchende Oberfläche ohne sie zu berühren. Die physikalische Wechselwirkung der Kräfte zwischen Nadel und Probe liefert das Abbild der Probenoberfläche (Rasterkraftmikroskop).
Man kann mit dem Mikroskop in physiologischer, also wässriger Umgebung arbeiten und dadurch lebendes Material untersuchen. Prof. Heckl mikroskopiert so Chromosomen und schneidet DNA-Material heraus, um es weiterführenden biochemischen Arbeitsschritten zuzuführen. Die kleinste, so erreichte Schnittbreite beträgt ungefähr 100nm.

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Aussteller

Universität München

Adresse und Ansprechpartner

Theresienstraße 41
80333 München

Hr. Hagen Göttlich